功能性说明
DDR3sdram采用双数据速率架构来实现高速操作。双数据速率架构是一种8n-预取架构,其接口设计用于每个时钟周期在I/O引针上传输两个数据字。DDR3sdram的读或写操作有效地包括在内部DRAM核心的单个8n位宽的四时钟周期数据传输和在I/O引针的8个对应的n位宽、半时钟周期数据传输
差分数据频闪器(DQS,DQS#)与数据一起向外部传输,用于DDR3sdram输入接收器的数据捕获。DQS与作家的数据在中心对齐。读取数据由DDR3sdram传输,并边缘对齐到数据频闪。
DDR3sdram从一个差动时钟(CKandCK#)开始工作。CKgoingHIGH和CK#变低的交叉称为CK的正边。控制、命令和地址信号被登记在CK的每一个正边。输入数据在写前导后DQS的第一个上升边上注册,输出数据在READ前导后DQS的第一个上升边上引用。
对DDR3sdram的读取和写访问都是面向突发的。访问从选定的位置开始,并继续执行编程序列中的编程数个位置。访问从注册激活命令开始,然后是读或写命令。与激活命令一致的地址位用于选择要访问的银行和行。与READ或写命令一致注册的地址位用于选择突发访问的行和起始列位置。
该设备使用读取和写入BL8和BC4。可以启用自动预充电功能,以提供在突发访问结束时启动的自定时行预充电。
与标准的DDRsdram一样,DDR3sdram的流水线、多银行架构允许并发操作,从而通过隐藏行预电和激活时间来提供高带宽
它还提供了一种自刷新模式,以及一种节能、下电模式。
工业温度
工业温度(IT)设备要求外壳温度不超过-40°C或95°C。JEDEC规范要求在TC超过85°C时刷新率翻倍;这还需要使用高温自刷新选项。此外,当TCis85°C时,ODT电阻和输入/输出阻抗必须降低。
汽车温度
汽车温度(AT)装置要求机箱温度不超过-40°C或105°C。JEDEC规范要求在TC超过85°C时刷新率翻倍;这还需要使用高温自刷新选项。此外,当TCis85°C时,ODT电阻和输入/输出阻抗必须降低。
超高温
超高温(UT)设备要求机箱温度不超过-40°C或125°C。JEDEC规范要求当TC超过85°C时刷新率加倍;这还需要使用高温自动刷新选项。当Tc>+105C时,刷新率必须将刷新率提高到8X。Tc>+105不可用°C.此外,当TCis85时,必须降低ODT电阻和输入/输出阻抗°C.
描述
DDR3Lsdram(1.35V)是DDR3(1.5V)sdram的低压版本。在1.5V兼容模式下运行时,请参阅DDR3(1.5V)sdram(模具Rev:E)数据表规范。
特征
•VDD=VDDQ=1.35V(1.283-1.45V)
•向后兼容VDD=VDDQ=1.5V±0.075V
–支持DDR3L设备在1.5V应用中向后兼容
•差分双向数据选通
•8n位预取架构
•差分时钟输入(CK,CK#)
•8家内部银行
•标称和动态模上终端(ODT)
数据、选通和屏蔽信号
•可编程CAS(读取)延迟(CL)
•可编程CAS附加延迟(AL)
•可编程CAS(写入)延迟(CWL)
•固定爆破长度(BL)为8,爆破劈裂(BC)为4
(通过模式寄存器集[MRS])
•可随时选择BC4或BL8(OTF)
•自刷新模式
•TC为-40°C至+125°C–64ms,-40°C至+85°C时8192次循环刷新–在+85°C至+105°C时32ms–在+105°C至+115°C时16ms–在+115°C至+125°C时8ms•自刷新温度(SRT)
•自动自刷新(ASR)
•写平衡
•多用途寄存器
•输出驱动器校准
•AEC-Q100
选项标记
•配置
-512兆欧x 8 512M8
-256兆欧x16 256M16
•FBGA包装(无铅)——
x8
–78个球(8mm x
10.5毫米)
爸爸
•FBGA包装(无铅)——
x16
-96球(8mm x 14mm)TW
•定时–循环时间
–1.07ns@CL=13
(DDR3-1866)
-107
•汽车A级——AEC-Q100
–PPAP提交
•工作温度
–工业(–40°C≤ 总费用≤
+(95摄氏度)
信息技术
–汽车温度(–40°C)≤ 总费用≤ +(105摄氏度)
在
–超高(–40°C≤ 总费用≤
+125°C)3
美国犹他州
•修订:P
