描述
DDR3sdram采用双数据速率架构来实现高速操作。双数据速率架构是一种8n-预取架构,其接口设计用于每个时钟周期在I/O引脚上传输两个数据字。针对DDR3sdram的单个读或写操作有效地包括在内部DRAM核心处的单个8n位宽、四时钟周期数据传输和在I/O引针处的8个相应的n位宽、一个半时钟周期数据传输。
差分数据频闪器(DQS,DQS#)与数据一起向外部传输,用于DDR3sdram输入接收机的数据捕获。DQS与作家的数据在中心对齐。读取数据由DDR3sdram传输,并边缘对齐到数据频闪。
DDR3sdram通过差动时钟(CK和CK#)工作。CK走高和CK#低的交叉被称为CK的正边。控制、命令和地址信号被登记在CK的每一个正边。输入数据在写前导后DQS的第一个上升边上注册,输出数据在READ前导后DQS的第一个上升边上引用。
对DDR3sdram的读取和写访问都是面向突发的。访问从选定的位置开始,并继续执行编程顺序中的编程数个位置。访问从注册激活命令开始,然后是读或写命令。与激活命令一致的地址位用于选择要访问的行和行。与READ或写命令一致注册的地址位用于选择突发访问的行和起始列位置。
该设备使用读取和写入BL8和BC4。可以启用自动预充电功能,以提供在突发访问结束时启动的自定时行预充电。
与标准的DDRsdram一样,DDR3sdram的流水线、多银行架构允许并发操作,从而通过隐藏行预电和激活时间来提供高带宽。
它还提供了一种自刷新模式,以及一种节能、下电模式。
特征
•VDD=VDDQ=1.5V±0.075V
•1.5V中心端接推/拉输入/输出
•差分双向数据选通
•8n位预取架构
•差分时钟输入(CK,CK#)
•8家内部银行
•标称和动态模上终端(ODT)
用于数据、选通和屏蔽信号
•可编程CAS读取延迟(CL)
•公布的CAS附加延迟(AL)
•基于
T
CK
•固定爆破长度(BL)为8,爆破劈裂(BC)为4
(通过模式寄存器集[MRS])
•可随时选择BC4或BL8(OTF)
•自刷新模式
•0°C至95°C的温度
-64ms,8192次在0°C至85°C温度下的循环刷新
–32毫秒,在85°C至95°C下进行8192次循环刷新
•自刷新温度(SRT)
•自动自刷新(ASR)
•写平衡
•多用途寄存器
•输出驱动器校准
选项1标记
•配置
-512兆欧x4512m4
-256兆欧x 8 256M8
-128兆欧x16 128M16
•FBGA封装(无铅)-x4、x8
–78个球(8mm x 10.5mm)旋转。克达
–78个球(8mm x 10.5mm)旋转。N EF
•FBGA封装(无铅)–x16
–96个球(8mm x 14mm)旋转。K JT
–96个球(8mm x 14mm)旋转。北纬
•定时–循环时间
–938ps@CL=14(DDR3-2133)-093
-1.07ns@CL=13(DDR3-1866)-107
-1.25ns@CL=11(DDR3-1600)-125
-1.5ns@CL=9(DDR3-1333)-15E
-1.87ns@CL=7(DDR3-1066)-187E
•工作温度
–商用(0°C≤ 总费用≤ +95°C)无
–工业(–40°C≤ 总费用≤ +95°C)它
•修订版:K/:N
